掃描型紫外可見分光光度計  型號:DP-UV3200

DP-UV3200掃描型紫外可見分光光度計通過簡單的參數(shù)設(shè)定，方便地行光度分析、定量分析、動力學(xué)測試，配合掃描分析軟件，可實(shí)現(xiàn)波長光譜掃描、多波長測試、DNA/蛋白質(zhì)分析。

DP-UV3200術(shù)參數(shù)

波長范圍：190-1100nm
光譜帶寬：1.8nm
波長準(zhǔn)確度：±0.3nm
波長重復(fù)性：≤0.2nm
光度準(zhǔn)確度：0.2%T (0-T) 、±0.002A(0-0.5A) 、±0.004A(0.5-1A)
光度重復(fù)性：≤0.15%T (0-T)、0.001A(0-0.5A)、0.002A(0.5-1A)
雜散光：≤0.03%T＠220nm , 360nm
穩(wěn)定性：±0.001A/h ＠500nm
基線平直度：±0.0015A (200-1000nm)
噪聲：±0.0005A
顯示方式：320*240大屏幕液晶顯示
作方式：T,A,C
掃描速度：、中、低三檔可選 ，3800nm/min
波長設(shè)置方式：自動
顯示范圍：0-200%T , -4.0 - 4A
檢測器：口硅光二級管
光源：口長壽命鎢燈、氘燈
鍵盤：薄膜數(shù)字式按鍵
數(shù)據(jù)輸出：USB口
打印輸出：并口
電源：AC 220/50Hz 或 AC 110/60Hz
儀器尺寸：590*420*260mm
主機(jī)重量：20kg